對(duì)產(chǎn)品或原料使用金屬探測(cè)儀來(lái)進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，其可能會(huì)因?yàn)橥獠凯h(huán)境所產(chǎn)生的一些因素而導(dǎo)致設(shè)備所具有的檢測(cè)效果產(chǎn)生一定程度的影響。并且其設(shè)備是通過(guò)檢測(cè)探頭所產(chǎn)生的磁場(chǎng)來(lái)對(duì)含有金屬異物的產(chǎn)品機(jī)芯檢測(cè)的。
當(dāng)檢測(cè)儀周?chē)哂械拇艌?chǎng)可能會(huì)對(duì)設(shè)備的檢測(cè)效果造成一定程度的影響。并且當(dāng)磁場(chǎng)與設(shè)備之間所具有的距離越近，會(huì)使得設(shè)備擁有的靈敏度也會(huì)產(chǎn)生越嚴(yán)重的影響。
所以當(dāng)使用兩個(gè)或兩個(gè)以上的檢測(cè)頻率來(lái)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，其能夠擁有較良好的檢測(cè)效果。并且其還可以利用相應(yīng)的檢測(cè)頻率來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品效應(yīng)，但會(huì)使得非鐵類(lèi)磁性金屬出現(xiàn)靈敏度降低。
檢測(cè)儀設(shè)備內(nèi)部所具有的一些零件也可能會(huì)影響到設(shè)備所具有的檢測(cè)效果。當(dāng)設(shè)備的零件出現(xiàn)損傷時(shí)，會(huì)使得設(shè)備無(wú)法進(jìn)行正常的工作。而且當(dāng)探測(cè)探頭之中的零件出現(xiàn)損壞，則不能夠?qū)饘龠M(jìn)行檢測(cè)，從而會(huì)對(duì)金屬檢測(cè)儀所擁有的檢測(cè)效果造成較大程度的影響。
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